Kính hiển vi điện tử quét Zeiss SEM

Thông số kỹ thuật:

Độ phóng đại: 5x –1000000x

Độ phân giải: ~2,5–3 nm

Điện áp tăng tốc: 0,2 – 30 kV

Máy dò: Electron thứ cấp / tán xạ ngược

Phân tích: Phân tích nguyên tố EDS

Chân không: Chân không cao / thấp

Khả năng tương thích mẫu lớn

Phần mềm: SmartSEM

 • Kính hiển vi điện tử quét để phân tích bề mặt có độ phân giải cao

 • Thích hợp cho QC công nghiệp và phân tích lỗi

 • Hỗ trợ nhiều máy dò SE/BSE

 • Có thể mở rộng với phân tích nguyên tố EDS

 • Buồng lớn dành cho mẫu công nghiệp

 • Hỗ trợ chế độ chân không thấp và chân không cao

 • Vận hành dễ dàng cho người dùng không phải chuyên gia

 • Tự động lấy nét và tự động căn chỉnh

 • Hệ thống chùm tia điện tử có độ ổn định cao

 • Điều khiển phần mềm SmartSEM

 • ZEISS EVO Được sử dụng để phân tích cấu trúc vi mô của vật liệu công nghiệp

 • Phát hiện các vết nứt, lỗ rỗ, vết bẩn, khuyết tật bề mặt

 • Hỗ trợ phân tích thành phần nguyên tố

 • Được sử dụng rộng rãi trong ngành ô tô, điện tử và ắc quy